A对
B错
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
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利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。
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CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
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用CSK-ⅠA试块测定一斜探头的前沿长度L0和K值。用R100弧面测试,找到最高波,此时探头前沿至R100弧面端点距离M为85mm。用Ф50孔测试,找到最高波此时探头前沿至试块端面的距离L为78mm。试计算此探头的前沿长度l0和K值。
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CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。
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CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔,在超声远场,其反射波高随声程的变化规律与()相同
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与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
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CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔,在超声远场,其反射波高随声程的变化规律与()相同
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模拟式超声波探伤仪用K1.5的横波斜探头用CSK-Ⅰ试块按深度1:1进行扫描速度校 准,R50、R100圆弧面的回波应分别对准水平刻度()
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