A扫查
B测定
C校正
D调谐
在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。
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在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
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在探头与工件探测面之间充填粘度较大的耦合剂或加入多层介质的耦合方法称为()。
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斜探头横波探伤所得的缺陷在探测面上投影位于探头()。
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仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角为45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是:())
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仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是85mm和85mm。
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在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
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频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。
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使用两只独立的探头在被检工件相对探测面进行探伤的方法称为()。
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