在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

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使探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能有哪几种？

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使用两只独立的探头在被检工件相对探测面进行探伤的方法称为（）。

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斜探头横波探伤所得的缺陷在探测面上投影位于探头（）。

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芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（）。

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将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。

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芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。

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在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

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