磁粉探伤时采用交流电磁化，可探测零件表面（）以内的缺陷。

磁粉探伤时采用（）磁化方法探测零件任意方向的缺陷。

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磁粉探伤时采用（）磁化方法探测零件纵截面上的缺陷。

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磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时，当零件在磁场中磁化后会产生（）来探测缺陷。

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磁粉探伤时采用（）磁化方法可以探测零件横截面上的缺陷。

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磁粉探伤采用直流电磁化时，其退磁（）。

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磁粉探伤中很少采用直流电磁化是由于（）和（）。

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下列无损探伤中，能够探测零件表面缺陷的有（）。 Ⅰ.渗透探伤； Ⅱ.磁粉探伤； Ⅲ.涡流探伤； Ⅳ.超声波探伤； Ⅴ.射线探伤； Ⅵ.声发射探伤。

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磁粉探伤无法探测零件内部缺陷的原因是（）。

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涡流探伤可探测零件表面以下0.11～0.20mm处的缺陷，是检测灵敏度高、速度快的一种（）探伤方法。

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