单选题
A大而平的缺陷与入射声束取向不良
B疏松
C晶粒粗大
D以上都是
正确答案
答案解析
略
相似试题
在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）
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在显像后经仔细观察未发现有缺陷显示，但发现有操作不当产生的错误显示，则应该（）
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在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
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射线检验是利用射线穿过材料或工件时的能量衰减来检测其内部缺陷。
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使用后乳化型荧光渗透法检验类似划痕那样的浅缺陷时，乳化剂在工件上允许停留的时间要严格限制，最适宜的时间应该是（）
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在X射线照相检验中，工件的体积型缺陷，较易被发现
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按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷显示在长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于30°时，按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许（）。
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用渗透法检验工件时，工件的温度应接近室温，如果检验时工件的温度很低，则（）
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超声波仪器的C型显示能显示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能显示其深度。
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