表面波探头用于探测工件表面缺陷。

表面波探头用于探测工件（）缺陷。

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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

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表面波探头用于探测工件（）。

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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。

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双晶探头用于探测工件（）缺陷。

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在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

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探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。

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探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

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