单选题

晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()

A直射法

B斜射法

C表面波法

D上述三种都不对

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题
  • 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

    单选题查看答案

  • 垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

    填空题查看答案

  • 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

    单选题查看答案

  • 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()

    单选题查看答案

  • 主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。

    单选题查看答案

  • 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()

    单选题查看答案

  • 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()

    单选题查看答案

  • 用水浸法超声波纵波垂直入射探测钢板,要使第二次水层界面回波与钢板第二次底波重合,则水层厚度与钢板厚度之比应为()

    单选题查看答案

  • 在工业超声波中能分辨出距探测面最近的回波缺陷的能力称为()

    单选题查看答案