锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）

锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）

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串列法探伤适用于检测垂直于探测面的平面缺陷。

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对一个未加工的粗糙锻件进行磁粉探伤时，发现一个向各个方向延伸的显示。显示看起来垂直于表面，延伸至工件深处。显示非常清晰。这缺陷可能是（）

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对一个未加工的粗糙锻件进行磁粉探伤时，发现一个向各个方向延伸的显示。显示看起来垂直于表面，延伸至工件深处。显示非常清晰。这缺陷可能是（）：

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纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。

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纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）

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磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

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