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略
相似试题
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
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X射线光谱分析中是以特征光谱线为（）
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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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在ICP光谱分析中测量200nm以下波长的谱线时，分光室应该（）
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在发射光谱分析中，仪器所测得的谱线是原子（）过程中产生的。
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在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
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发射光谱分析中各元素的谱线强度与光源的温度关系是（），当光源温度为一定时，某元素的原子发射谱线强度与（）成正比。
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