对于纵缝的AB级而言，源至工件表面的距Ll与一次透照长度L3的关系应满足（）。

要满足几何不清晰度的要求，对于AB级而言，射线源至工件表面距离Ll至少应为（）（式中：d-射线源的尺寸，L2-工件表面至胶片的距离）。

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对于AB级而言，其几何不清晰度的计算公式为（）。

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对单壁透照的AB级而言，II型象质计适用的透照厚度范围是（）。

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几何不清晰度Ug与射源至物件表面的距离（）

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对于表面光滑的工件，选择湿式显像比干式效果好。

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用周向x光机检测纵焊缝一次透照2片（L3=250×2=500mm），要满足AB级K＝1.03的要求，焦点距工件菜面的距离L1至少为多少（）。

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一般对于有腐蚀的工件的表面检测，磁粉检测通常优于渗透检测。

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对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。

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对于厚壁工件，采用中心导体法，管外表面的磁场强度比内表面下降很多。

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