A对
B错
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
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X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。
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X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。
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X射线荧光光谱分析标准化的方法有()校正法。
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X射线荧光光谱标准加入法可通过()求得试样的分析结果。
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