X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
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X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
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X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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