某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）

在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

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若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）

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若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。

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无论哪种量具，凡有平工作面的，均有平面度要求，那么平面度是指包容（）且距离为最小的两（）之间的距离。

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用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

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不论哪种量具，凡有平工作面的，均有颊度要求，那么平面度是指包容（）且距离为最小的（）之间的距离。

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深度千分尺基座测量面的平面度不应大于（）；其深度千分尺的校对量具和尺寸偏差不超过（）。

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深度千分尺基座工作面的平面度不大于（）

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