在s平面上，凡能满足（）的点都是系统的特征根。

s平面上满足相角条件的点，必定同时满足幅值条件。

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H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）。

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若系统的传递函数在右半S平面上没有（），则该系统称作最小相位系统。

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若系统的传递函数在右半S平面上没有零点和极点，则该系统称作（）。

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根轨迹是指开环系统某个参数由0变化到∞，（）在s平面上移动的轨迹。

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根轨迹是指系统特征方程的根随系统参量变化在s平面上运动而形成的轨迹。

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最小相位系统指具有最小相位传递函数的系统，最小相位传递函数即G（s）没有零点落在右半s平面上，与极点的位置无关。

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两条或两条以上的根轨迹分支在复平面上相遇又立即分开的点，称为根轨迹的：（）

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相对独立平面坐标系统是指为满足在局部地区进行大比例尺测图和（）的需要，以任意点和方向起算建立的平面坐标系统或者在全国统一的坐标系统的基础上，进行中央子午线投影变换评议旋转等，而建立的平面坐标系统。

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