人工缺陷试环用于（）法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于复合磁化法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于旋转磁场法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

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磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于周向直接通电法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

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磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷

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磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷

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磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷

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磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）

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