A杂乱
B平行于晶粒流向
C垂直于晶粒流向
D与晶粒流向成45°角
锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。
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方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。
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锻件探伤时,如缺陷引起底波明显下降或消失,说明锻件中存在较严重的缺陷。
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锻件中常见的缺陷有(),(),(),()等等。
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一个几何形状不是扁平的缺陷,其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同,在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时,前者的回波高度与后者的回波高度相比,通常是:()
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锻件探伤中,示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波,一般单个缺陷间距大于()。
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用2.5MHzφ14mm直探头探测一锻件,200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB,探伤中在100mm处发现一缺陷回波,波幅为22dB,此缺陷的当量大小为()。
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用2.5MHZ.Φ14mm直探头探伤一锻件,200mm处Φ2平底孔回波相对波幅为6dB,探伤中在100mm处发现一缺陷回波,波幅为22dB,求此缺陷的当量大小()。
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一般探测板材焊缝中沿溶合线取向的缺陷时,最好使用()。
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