检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

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检验（）缺陷，有效的方法是采用收发联合双晶探头。

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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

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双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。

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超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是（）探头。

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双晶斜探头对发现焊缝近表面气孔很有效。

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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

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双晶探头用于探测工件（）缺陷。

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探头型式有直探头、（）、表面波探头、双晶探头等。

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