A1/4波长
B1/2波长
C与波长相当
D1/4波长的整数倍
接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。
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接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。
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用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。
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超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
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只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。
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探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。
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探头晶片尺寸(),半扩散角减少,波束指向性变好,超声波能量集中,对探伤有利。
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在超声波探伤中,探头芯片厚度与探头频率有关,芯片越厚,频率()。
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