A
B
C
D
如图所示,波长为λ的平行单色光垂直入射在折射率为n2的薄膜上,经上下两个表面反射的两束光发生干涉。若薄膜厚度为e,而且n1〉n2〉n3,则两束反射光在相遇点的位相差为()
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波长为λ的平行单色光垂直地照射到劈尖薄膜上,劈尖薄膜的折射率为n,第二级明纹与第五条明纹所对应的薄膜厚度之差是()。
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如图所示,折射率为n2、厚度为e的透明介质薄膜的上方和下方的透明介质的折射率分别为n1和n2,已知n1〈n2〈n3若用波长为l的单色平行光垂直入射到该薄膜上,则从薄膜上、下两表面反射的光束①与②的光程差是()
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如图所示,折射率为n2,厚度为e的透明介质薄膜的上方和下方的透明介质的折射率分别为n1和n3,且n1<n2,n2>n3,若用波长为λ的单色平行光垂直入射到该薄膜上,则从薄膜上、下两表面反射的光束的光程差是()
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利用牛顿环的干涉条纹,可以测定凹曲面的曲率半径。方法是将已知曲率半径的凸透镜,其凸面置于待测凹面镜上,两镜面之间即形成劈尖形空气层,如图所示。当单色平行光垂直照射时,可以观察到明暗相间的干涉环。设凸面和凹面的曲率半径分别为 R1和R2 ,照射光的波长为λ ,证明第k级暗环的半径rk 满足下列关系式 。
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双缝干涉实验装置如图所示,双缝与屏之间的距离D=120cm,两缝之间的距离d=0.50mm,用波长λ=500nm(1nm=10-9m)的单色光垂直照射双缝。 如果用厚度l=1.0X10-2mm,折射率n=1.58的透明薄膜复盖在图中的Sl缝后面,求上述第五级明条纹的坐标x’。
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如图a所示,一光学平板玻璃A与待测工件B之间形成空气劈尖,用波长λ=500nm(1nm=10-9m)的单色光垂直照射。看到的反射光的干涉条纹如图b所示。有些条纹弯曲部分的顶点恰好与其右边条纹的直线部分的切线相切.则工件的上表面缺陷是()
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制造半导体元件时,常常需要测定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度.可以将二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,露出一个倾斜的劈尖膜.用波长为589.3nm的钠光垂直照射,观察到如图所示的条纹.已知硅的折射率为3.42,二氧化硅的折射率n=1.52,计算此氧化层的厚度d.
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单色平行光垂直照射到衍射光栅上,问缝宽a与光栅常数d的比值a/d为多少时衍射的二级主极大的光强度为最大?a/d为多少时衍射的二级主极大的光强度为最小?
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