A对
B错
X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
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X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
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波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。
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X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
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在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。
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在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中连续光谱是构成()的主要成分。
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