X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。

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X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

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X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

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试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。

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波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

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