不影响X荧光分析的主要因素有（）。

用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）

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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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X射线荧光分析法有何特点？

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X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。

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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。

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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

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