A压片法
B薄膜法
C熔融制样法
D离心浇铸法
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,我们采用()对粉末样进行定型。
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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。
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X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品,样品的()会造成分析误差。
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X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
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波长色散的X荧光分析仪器分类可分为扫描型、固定型和扫描与固定的组合三种类型,目前我们化验室所用的MXF-2400型X荧光仪属于()
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X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。
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把粉末样品加压成型,制成X射线荧光分析试样的方法叫做()
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?
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