X射线光谱分析中是以（）为分析依据的。

X射线光谱分析中是以特征光谱线为（）

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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。

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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

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在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。

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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

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在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）

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