锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。

锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒（）。

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锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。

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锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）

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锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）

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锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

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表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。

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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

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