A边缘效应
B工件形状及外形轮廓
C迟到波
D以上全部
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。
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锻件探伤中,荧光屏上出现“()”是由于工件材料晶粒粗大。
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锻件探伤中,荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒()。
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锻件探伤中,荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。
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表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()
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锻件探伤中,如缺陷引起底波明显()时,说明锻件中存在较严重的缺陷。
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锻件探伤时,如果用试块比较法对缺陷定量,对于表面粗糙的缺陷,其实际尺寸会()
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长轴类锻件从端面作轴向检测时,容易出现的非缺陷回波是()
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长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。
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