A 平行且靠近探测面
B 与声速方向平行
C 与探测面成较大角度
D 平行且靠近底面
锻件探伤中,荧光屏上出现“()”是由于工件材料晶粒粗大。
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锻件探伤中,荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒()。
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锻件探伤中,荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。
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锻件探伤时,()会在荧光屏上产生非缺陷回波。
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表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()
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用试块法调节锻件探伤灵敏度时应作()及()补偿。
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对一个未加工的粗糙锻件进行磁粉探伤时,发现一个向各个方向延伸的显示。显示看起来垂直于表面,延伸至工件深处且非常清晰。这缺陷可能是()。
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厚度为295㎜的锻件,用纵波探伤时,声波在工件内往复一次的时间为()。
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锻件接触法探伤中,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生()。
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