AF/B相同,缺陷当量相同
B该法不能给出缺陷的当量尺寸
C适于对尺寸较小的缺陷定量
采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时,下面说法正确的是()。
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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()。
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方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。
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半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
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不适宜采用水洗性渗透探伤法检测的缺陷是()。
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采用水浸法探伤时,根据()产生的回波情况进行缺陷评定。
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检测厚钢板采用垂直法探伤时,根据()前后产生的回波情况进行缺陷评定。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高
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