于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

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对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

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当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。

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tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

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西林电桥测试tanδ时，升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。

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当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

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采用QS1电桥进行反接线测试tanδ，其工作电压不可超过10kV。

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