当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

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tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

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当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

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M型介质试验器往被试品上施加的交流试验电压为（）。

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绝缘介质在交流电压作用下，其中电阻性的电流的大小与被试品的介质损耗大小有关。

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