tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

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当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

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当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

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西林电桥测试tanδ时，升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。

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当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

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对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

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