X射线荧光分析标准添加法和稀释法中，仍需要标准和校准曲线。

X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。

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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。

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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

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在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

判断题查看答案

X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。

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