X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。

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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。

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在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）

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X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。

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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

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X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。

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X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

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