判断题
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
发射光谱分析中各元素的谱线强度与光源的温度关系是（），当光源温度为一定时，某元素的原子发射谱线强度与（）成正比。
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在发射光谱分析中，仪器所测得的谱线是原子（）过程中产生的。
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在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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在火花光源作用下，金属试样中分析元素的谱线强度并不能在试样激发后立即达到稳定，而须经过一段时间方趋于稳定，这种现象称为（）
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每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。
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X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。
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在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
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在ICP光谱分析中测量200nm以下波长的谱线时，分光室应该（）
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原子的K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可以产生一系列的谱线，称为（）谱线。
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