A对
B错
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()
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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。
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X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。
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在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。
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X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
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