容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。

超声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。

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容易探测到的缺陷尺寸一般不小于超声波长的一半。

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超声探伤，能够探测的缺陷尺寸，一般不小于一个波长。

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从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。

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超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

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在超声波探伤中，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

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探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

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在超声波探伤中，（）的1/2左右的缺陷尺寸为探测极限。

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长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。

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