芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（）。

芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。

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使探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能有哪几种？

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探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。

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超声波探伤，探头与被探管子表面作相对运动的轨迹是螺旋线。

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在探头表面和被检材料表面之间，用来使超声波振动从探头传播到被检材料中去的材料叫做（）

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。

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在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

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用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。

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将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。

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