X射线强度用（）表示，单位为每秒脉冲数。

X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。

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能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。

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X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。

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元素的特征X射线相对强度是确定的，当Kα2的强度是50Kcps时，则Kα1的强度为（）Kcps。

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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

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波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

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每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。

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X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

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特征X射线的强度正比于激发所产生的空位和电子向该空位跃迁的几率。

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