元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是（）定律。此定律成为X射线光谱（）分析的基础。

元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成（）。

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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。

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X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

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波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

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X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。

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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。

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X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

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X射线波长极短，不能像紫外和可见光那样，用（）和（）来分离特征X射线光谱。

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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

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