X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。

X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，我们采用（）对粉末样进行定型。

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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。

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粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。

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X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）

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X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？

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X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

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X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

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