当用X射线照射物质时，除了发生（）等现象外，还能产生特征X射线荧光。

当光束照射到物质上时，光与物质之间便产生光的（）、（）、（）、（）等现象。

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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

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试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。

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波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

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X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。

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用二次x射线来分析物质所含元素的种类及含量的方法称为（）。

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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。

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布拉格（Bragg）公式：2dsin0＝nλ对X射线通过晶体的干涉现象有了（）的描述。

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一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射（）X射线。

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