A外层电子
B内层电子
C原子
D高能电子
X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
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X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
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X射线波长与元素原子序数的平方成(),因此,可根据其波长确定元素。
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X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成()。
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元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。此定律成为X射线光谱()分析的基础。
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X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。
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