当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

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tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

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对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

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当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

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工频耐压试验时采用球间隙进行测量，选定球隙放电电压时，不得高于被试品试验耐受电压的（），一般可取试验电压的80%。

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在直流电压试验中，作用在被试品上的直流电压波纹系数应不大于3%。

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