粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。

粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，我们采用（）对粉末样进行定型。

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X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。

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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

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X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

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X荧光仪分析炉渣中钙时，检测器实际检测的是（）的光信号。

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目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。

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采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）

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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

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采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。

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