CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。

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斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

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CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

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CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

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根据NB/T47013.3-2015标准规定，对于板厚为6mm的钢对接焊接接头超声检测，可采用CSK-ⅠA和CSK-ⅡA试块。

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CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

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按照NB/T47013.3-2015标准规定，对检测面曲率半径为50－250mm的纵向对接接头和检测面曲率半径为80－250mm的环向对接接头超声检测，不使用CSK-ⅡA试块。

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CSK－ⅡA试块的主要作用是什么？

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