CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

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斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

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利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

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CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

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CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。

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CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同

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利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）

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对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时，采用的对比试块最好是（）

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