A对
B错
CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔,在超声远场,其反射波高随声程的变化规律与()相同
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斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
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CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔,在超声远场,其反射波高随声程的变化规律与()相同
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CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。
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CSK-IB试块上,Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定()的()
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对比试块上的人工反射体尺寸()。
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CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。
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CSK-ⅡA试块的主要作用是什么?
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利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。
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