稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。
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测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。
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测量系统的（）通常被称为测量设备的变差。
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测量系统的（）通常被称为评价人的变差。
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普通原因变差指的是在一个过程内许多变差的来源，（）
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形成变差的普通原因，其特点是（）。
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对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
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测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响，主要强调（）和（）的变差对测量值的影响。
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测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。
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