测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。

稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下，是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。

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测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

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普通原因变差指的是在一个过程内许多变差的来源，（）

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测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由（）造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过（）法最佳地进行评价。

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测量系统变差的类型有哪些？

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测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响，主要强调（）和（）的变差对测量值的影响。

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形成变差的普通原因，其特点是（）。

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对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

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在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（）。

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