A探头与工件表面之间
B工件底面与空气之间
C仪器与探头之间
D以上都不对
用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果()。
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直探头接触法探伤时,底面回波降低或消失的原因是()。
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直探头接触法探伤时,底面回波降低或消失的原因是()。
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直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。
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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是高频直探头或斜探头
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铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。
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单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。
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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
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大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()。
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